测试探针产业链全景图谱
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零部件
测试探针
测试探针是电子制造测试环节中的精密接触组件，位于中游测试设备层，用于可靠传输电路信号以实现功能验证，核心价值在于确保产品质量控制和生产良率。
节点同义词
测试探针头
节点特征
物理特征
微型金属探针结构（如pogo pin或弹簧针）
高精度接触点（精度±10μm以内）
耐用材料（如铍铜合金或镀金触点）
标准尺寸规格（如0.5mm直径或行业标准JIS C 5102）
需要洁净室环境生产
功能特征
实现电路板与测试仪器的电气连接
支持高频信号传输（如GHz范围）
确保低接触电阻（<100mΩ）和高可靠性
适用于自动化测试系统（如ICT或FCT设备）
可重复使用（寿命>100,000次循环）
商业特征
市场集中度中等（CR3约50-60%，专业厂商主导）
价格基于精度和寿命（价格弹性低，质量优先）
技术壁垒高（依赖精密工程和材料科学）
资本密集度中等（需专用CNC设备投资）
毛利率在20-30%（成本加成定价模式）
典型角色
测试设备的关键接口组件
质量控制的差异化因素
可替换部件（供应链缓冲点）
供应脆弱环节（磨损导致测试中断风险）
专用设备
芯片分选机
芯片分选机是半导体封装测试环节的核心设备，位于中游制造阶段，主要用于通过光学和电性测试对芯片进行测试、分类和良率分级，确保芯片质量并优化生产流程。
终端品
测试板
测试板是电子制造产业链中的专用测试工具，位于中游环节，用于验证印刷电路板（PCB）和半导体芯片的功能性能，以确保最终电子产品的质量和可靠性。