探针卡

探针卡产业链全景图谱

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零部件

探针卡是半导体测试设备中的核心接口组件，位于产业链的测试环节，主要负责在芯片测试过程中实现精确的信号传输和物理接触，其性能直接影响测试的准确性和效率。

节点特征

由金属探针（如钨或铍铜）和陶瓷基板构成板状或卡状物理形态微米级接触精度要求（通常<10μm）需要高洁净度生产环境（Class 1000或更高）标准化接口尺寸（如Pogo pin阵列或MEMS结构）

实现芯片与测试机之间的高速信号传输提供稳定的物理接触以进行电气测试和参数测量支持高频测试（可达GHz级别）和高精度需求应用于晶圆级测试（CP）和封装级测试（FT）场景直接影响测试良率（通常要求>99%）和测试效率

市场集中度高（CR3>60%，如FormFactor、Micronics主导）单价范围在1万至20万元人民币，价格弹性较低高技术壁垒（依赖专利和精密制造know-how）高资本密集度（设备投资占成本30%以上）毛利率较高（行业平均>40%）

测试环节的关键瓶颈节点技术差异化竞争的核心点供应链中的高价值交易节点存在单点故障风险（如供应中断影响测试线）

专用设备

芯片测试设备是半导体产业链中的专用测试工具，位于制造后段环节，主要用于验证芯片的性能、功能和可靠性，确保产品符合设计规格和质量标准，直接影响最终电子产品的良率和市场合格率。